果欧第3代漆膜仪 GTS8102-V3
| 型号 | GTS8102 第三代 | 类型 | 一体两用涂层测厚仪 |
| 品牌 | 果欧GUOOU | 测量范围 | 0~2000um |
| 分辨率 | 0.1μm（0~99.9μm），1μm（100~1500μm） | 最小曲面 | 凸 5mm/ 凹 5mm |
| 最小测量面积 | 10×10mm | 最薄基底 | 0.4mm |
| 使用环境 | -10～50℃（使用高温探头，工作温度：＜500℃）20%～90%RH | 测量准精度误差 | 零点校准 ±(1+2%H)；多点校准±(1+2%H)。H表示涂层厚度 |
GTS8102产品包装配件一览 GTS8102涂层膜厚仪符合以下执行标准： GB/T 4956-1985 磁性金属基本上非磁性覆盖层厚度测量（磁性方法）； JB/T 4957-1985 磁性和涡流式覆层厚度测量仪； JJG 889-95《磁阻法测厚仪》； GB/T 4957-1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度测量（涡流方法）； JJG 818-93《电涡流式测厚仪》； |